招标文件：变送器【长期稳定性】指标怎么写、到货怎么核验、验收怎么判定

核心痛点：很多标书只写一句 “长期稳定性良好”，没有量化；供应商随便承诺，到货没法检验，质保扯皮。 定义：长期稳定性（长期漂移）—— 在规定环境、额定工况下，随时间缓慢发生的零点 / 量程变化，单位：% FS / 年。 适用：压力 / 差压变送器，适配你前面冰胀、高温 180℃、大修年度复核场景。

一、招标文件技术条款该怎么写（直接复制）

推荐写法（标准版）

变送器长期稳定性：≤±0.05% FS/12 个月（单晶硅）；普通扩散硅可写≤±0.2% FS/12 个月。 要求：厂家提供长期稳定性试验报告，指标不得低于投标承诺；质保期内，因长期漂移超差导致零点 / 示值不合格，供方免费更换。

进阶（高要求 P0 联锁 / 计量测点，推荐） 长期稳定性：≤±0.05% FS / 年，连续 5 年漂移不超过 ±0.15% FS；并提供同系列型号第三方长期稳定性测试报告。

❌ 禁止模糊写法：“长期稳定性优良、性能稳定、漂移小”，无量化 = 无约束力。

指标选型参考

• 单晶硅（联锁、冰胀风险、180℃高温测点）：≤±0.05% FS / 年

• 扩散硅（普通监测点）：≤±0.2% FS / 年

二、关键澄清：长期稳定性不能在现场短时间实测出来

⚠️ 重点：长期漂移是一年 / 多年缓慢累积变化。到货验收，不可能等一年去实测。 所以验收分两层：资料核验（投标 + 到货） + 质保期内年度校验跟踪（现场实体验证）

① 投标阶段核验（评标时）

1. 要求投标方提供同型号、同芯体的长期稳定性试验报告（厂家实验室加速老化测试报告或第三方报告）。

2. 核对报告型号、芯体类型（单晶 / 扩散硅），报告上标注的年漂移指标≥投标承诺。

3. 澄清提问：

长期稳定性指标是零点漂移还是包含量程漂移？是否在 - 40℃~+85℃温度区间内保证？ 加速老化试验等效几年？加速试验依据哪个标准？ 若年度校验漂移超标，是否免费更换仪表？

坑：供应商拿短期温漂报告冒充长期稳定性报告，注意区分：

• 温漂：温度变化带来的读数变化（几小时就能测）

• 长期稳定性：时间老化，与温度无关

② 到货入库验收（大修备货阶段）

到货只能做静态精度、回程误差、零点测试，测不出长期稳定性。核验动作：

1. 核对出厂资料，确认长期稳定性指标与投标文件一致；

2. 记录仪表原始零点、量程、回程误差，建立基准校验档案（非常关键！作为未来每年复核对比基线）。

原理：第一年大修校验，就拿本次入库预校验数据做基准，看一年漂移多少。

③ 质保期内现场验证（真正落地的检验手段）

这才是检验长期稳定性的现场方法：

1. 仪表投用前：原始校验记录 A（基准）

2. 投用满 12 个月：年度零点 / 量程复核，得到记录 B

3. 计算漂移量：|B 零点 − A 零点 |，换算成 % FS

4. 判定：漂移＞标书约定值 → 判定不满足长期稳定性，启动质保索赔

适配你之前的年度复核表格：台账增加一列【年度漂移 % FS】。 注意：要排除冰胀冲击、高温蠕变、安装应力造成的漂移。 判定前先确认：无冰堵、无超压、无膜片损伤、管路无渗漏。如果是冰胀造成回程误差变大，不属于 “长期稳定性”，属于过载损坏，分开判定。

三、标准依据

GB/T 17214.1 / IEC 60770 变送器长期稳定性： 厂家一般采用加速老化试验（高温持续老化，等效多年自然老化），出具报告；加速试验仅作为投标依据，最终仲裁以现场年度连续校验记录为准。

四、评标 / 验收常见坑

❌ 坑 1：把温漂当成长期稳定性。 ❌ 坑 2：只写指标，不约定质保期超标处置方案，超标后供应商扯皮。 ❌ 坑 3：不做投用前基准校验，一年后没有原始数据，无法计算漂移。 ❌ 坑 4：不区分漂移成因：膜片冰胀 / 高温蠕变造成漂移，不属于芯片长期稳定性，不能混在一起考核。

五、PPT 一句话摘要

长期稳定性是年度缓慢漂移指标，到货无法当场实测；招标文件必须写量化 % FS / 年，投标阶段核验厂家长期老化试验报告；仪表投用前留存基准校验记录，质保期每年复核，对比原始基线判定漂移是否超标，超标启动质保。

招标文件技术条款极简版（可直接粘贴进标书）

变送器长期稳定性：≤±0.05% FS/12 个月。投标方需提供同型号产品长期稳定性试验报告。仪表投运前完成基准校验，质保期内每年进行零点及量程复核；若 12 个月漂移超过规定指标，供方免费更换仪表。